黄さん，清水さんの発表が「日本テスト学会大会発表賞」を受賞しました

　2023年8月27日に開催された，日本テスト学会第21回大会で，黄さん，清水さんが行ったがDIFに関する発表が「日本テスト学会大会発表賞」を受賞しました。

• Huang, S., Shimizu, Y., & Ishii, H. (2023.8). Enhancing accuracy and robustness in the detection of differential item functioning through a Multi-Detectors Combination approach.