日本テスト学会大会発表賞を受賞しました
2019年8月に名古屋大学で行われた日本テスト学会第17回大会において，坪田さんと石井先生が行った発表が，2019年12月14日，日本テスト学会大会発表賞を受賞しました。
- 坪田彩乃・石井秀宗 (2019). 受検者は項目のFlawに気が付くのか―項目作成ガイドラインの実験的検討―. 日本テスト学会第17回大会.
2019年8月に名古屋大学で行われた日本テスト学会第17回大会において，坪田さんと石井先生が行った発表が，2019年12月14日，日本テスト学会大会発表賞を受賞しました。